更新時(shí)間：2024-03-20
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廠(chǎng)商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商
城市：北京市
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應用領(lǐng)域 | 石油,能源 |
ILT 5000 SED005WBS320W紫外光固化與光輻射危害及閃光燈測量系統
紫外光固化與光輻射危害及閃光燈測量系統的研究
光學(xué)分析的10多個(gè)進(jìn)制單位的動(dòng)態(tài)范圍
Pico-ammeter：10fA至1mA（從100fA至1mA校準）
無(wú)線(xiàn)通信：內置
用戶(hù)控制或自動(dòng)：范圍、規零/暗零、采樣率
4-20 mA輸出
15針D Sub和SMA輸入端口
“Set it & Forget It”遠程數據記錄
電源：USB或內置充電電池組
多系統同時(shí)連續監測
包括DataLight II軟件和Labview采樣代碼
NIST可追溯/ISO17025認證校準
采樣率高達100 Hz，可編程
ILT 5000 SED005WBS320W紫外光固化與光輻射危害及閃光燈測量系統描述：
紫外敏感危害探測器設計為在250至400 nm的寬紫外波段上具有高靈敏度，用于紫外敏感危害研究
測量
測量范圍：2.33e-8至2.33e+0 W/cm2
光譜范圍：250–400 nm
配置：ILT5000*，SED005/WBS320/W（探頭）
*包括軟件
應用：該檢測器經(jīng)過(guò)特殊配置，可準確測量穿過(guò)UV波段的寬波部分，用于總UV靈敏度危險監測。
濾光片和輸入光學(xué)元件是可拆卸的，可以與探測器組件分開(kāi)購買(mǎi)，以允許濾光片和輸入光學(xué)元件互換。
注：配置中不含圖片中的平板電腦。
